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LC99154 데이터시트(PDF) 6 Page - Sanyo Semicon Device |
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LC99154 데이터시트(HTML) 6 Page - Sanyo Semicon Device |
6 / 9 page LC99154 No.6350-6/9 良否判定基準, 判定手段 製品の良否判定基準は、本納入仕様書の撮像特性 および 画像キズ規格とし、判定手段は三洋製評価装置とす る。 測定方法 以下の測定は、標準駆動状態 (P4, P5参照)で、三洋製評価装置およびアドバンテスト社製 テスターT8331を 使用して行う物とする。 1.(感度) 光源に若狭光学製CCD-SY1を用いて、素子表面に4Lux.の光を照射する。その時の画面中央部 (下図参照)の CCD出力値 (G, Ye, Cy, W)をアドバンテスト社製 テスターT8331を用いて測定する。4つの画素の平均値を感度とする。 R/B Gainは次式により求める。 G R=G/R G B=G/B 2.(映像信号不均一性) 測定は以下の条件で行う。 (1).標準駆動状態 (2).光源は、ハロゲンランプ 色温度3200Kを使用。 (3).IRカットフィルタ (C-500, 1mmt)を使用。 CCDの面照度を4Luxにセットし、画面を図1のように45分割する。各ブロックごとに平均値を測定し、Max, Min, Meanを求め、その差のブロック平均値に対する割合を求める。 図1 3.(飽和信号) 1の状態から照度を100Lux.に変え、出力信号を飽和させる。この時画面中央部のCCD出力信号を測定する。 VF= ブロック平均Max−ブロック平均Min ブロック平均Mean V/5 H/9 A12881 H/4 V/4 A12880 H/4 V/4 |
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